商用火花直读光谱仪(OES)仪器的性能和成本取决于很多因素,但其中很大一部分是仪器内的检测器技术。


互补金属氧化物半导体(CMOS)检测器专为最新一代OES光谱仪开发,取代光电倍增管(PMT)(一种仍为工业用途制造的真空技术)和基于半导体的电荷耦合器件(CCD)。 


这就是像我们这样的制造商选择CMOS检测器来确保灵活性的原因,由此可确保我们的客户始终配备最新软件。


用于光检测的CMOS芯片


CMOS是一种在集成电路中广泛使用的半导体拓扑技术。相比于最初的双极晶体管技术,CMOS的主要优势是高速和几乎为零的静态功耗,因此可将更多器件塞进小空间中,而不会出现过热现象。这就是为什么如今的微处理器、RAM和ASIC(仅举几例)由基于CMOS的器件主导。


在光检测中使用CMOS技术时,这些器件的工作方式与CCD非常相似。目前有一个可将多种波长的入射光转换为电信号的光敏像素阵列。


CMOS并非新技术,但这项技术近期得到发展,使之在光学应用中更高效、更少噪声。此外,由于CMOS生产非常普遍,因此与专业CCD制造相比,其相对便宜,这就是为什么相机制造商开始选择CMOS(而非CCD)来制作数码单反相机的图像捕捉部分。


CMOS芯片在多路复用读出电子设备中的运转速度也很快。因此,可将CMOS芯片用于重视速度的领域(例如,分析任务)。


日立OE系列


日立的OES仪器使用CCD(电荷耦合器件),但日立最新推出的OE系列除外,该系列使用CMOS检测器。这两种类型的检测器均基于半导体,可通过定制来覆盖光学系统内的整个光谱。


OE系列将基于CMOS检测器的范围、灵敏度与全新光学设计相结合,提供通常只有成本更高的仪器才能达到的高性能。OE系列的运行成本较低且占用空间相对较小,可检测金属中的所有元素(包括气体元素)。(文本摘至日立分析仪器微博,版权归作者所有,仅用于技术交流,如有疑问请与我司联系。)



   日立光谱仪系列   


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CMOS与PMT检测器在火花OES分析中的应用比较

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CMOS与PMT检测器在火花OES分析中的应用比较

发布者:admin

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2022年10月08日

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