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2021年12月15日

日立台式显微镜 TM4000 / TM4000 Plus

台式扫描电子显微镜(SEM)全新升级。 我们以“更高画质、更易于使用、更易于观察”为理念,开发出TM4000系列。在此基础上,我们又推出功能更为多样的TM4000Ⅱ系列。 为您提供全新的观察和分析应用。

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产品详情:

 

台式扫描电子显微镜(SEM)全新升级。

我们以更高画质、更易于使用、更易于观察为理念,开发出TM4000系列。在此基础上,我们又推出功能更为多样的TM4000Ⅱ系列。
为您提供全新的观察和分析应用。

 

产品特点:

观察图像3分钟。可迅速获得所需数据,并制作报告。

 

 

|| 观察与分析的灵活性

自动获取各类数据。快速切换!

可快速获得元素分布图*2

 

*1   TM4000PlusⅡ的功能。

*2   选配

 

 

|| 使用Camera Navi*的话,就是如此简单

Camera Navi图像让您轻松找到视野,分布图(MAP)功能全程支持您的观察


*   选配:Camera Navi系统

 

 

|| 操作简单且快捷

观察图像只需 3 分钟。
可快速观察图像,并导出测试报告。

 

|| Report Creator可让您轻松制作报告

 

只需选择图像和模板,就可以制作Microsoft WordExcelPowerPoint格式的报告

 


|| 即便是绝缘物样品,也无需预处理,就可直接进行观察。

静电减轻模式可抑制静电现象

 

对于容易产生静电的样品,可使用静电减轻模式,在抑制静电的状态下进行观察。

只需用鼠标在软件上点击即可切换到静电减轻模式 

 

|| 可在低真空的条件下进行多种观察

对于容易产生静电的粉末或含水等样品,可结合其目的进行观察。

 

 

 

|| 可在低真空的条件下进行二次电子像(表面形状)观察。

无需预处理,也可以观察绝缘物和含水、含油样品的表面

不仅是观察传统的导电性样品,还可以在无预处理的条件下观察绝缘物和含水、含油样品。可快速进行二次电子像与背散射电子像之间的切换。

 

 

|| 高感度低真空二次电子检测器

采用高感度低真空二次电子检测器(UVD)。通过检测由于电子线与残留气体分子之间的碰撞而产生的光,可以观察带有二次电子信息的图像。此外,通过控制该检测器,来检测电子照射所产生的光,可以获得CL信息(UVD-CL:带有CL信息的图像)。 

 

|| 可支持加速电压20 kV

TM4000Ⅱ/TM4000Plus II可支持加速电压20 kV

凭借EDS分析(选配),可进行更高计数率解析。

 

|| 通过加速电压20 kV,实现EDS元素分布图的高S/N 

|| Multi Zigzag(选配)

 

可实现在广域范围内进行SEM观察。

搭配自动马达台,可实现低倍率,高精度,大范围的观察分析。 

 

|| EM 样品台(选配)

 

|| 可轻松观察 STEM 图像

与全新开发的 STEM 样品台和高灵敏度低真空二次电子检测器(UVD)配合使用,可轻松观察小倍率 STEM 图像。

可轻松观察薄膜样品和生物样品. 

 

 

|| 产品规格:




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